IEC 61967-6:2002+AMD1:2008 CSV ed1.1

Действует

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 6: Measurement of conducted emissions - Magnetic probe method — 87 стр.

Описание Изменения Ссылки Версии

На этот документ ссылаются

ÖVE/ÖNORM EN 62433-2:2010-06

Заменен

EMC IC modelling - Part 2: Models of integrated circuits for EMI behavioural simulation - Conducted emissions modelling (ICEM-CE) (IEC 62433-2:2008) (english version)