Каталог стандартов
+7 (495) 223-46-76
+7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании
Стандарты
Контакты
Заказать стандарт
Стандарты
IEC
IEC 62276:2012 ed2.0
Заменен
Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods
— 82 стр.
Описание
Изменения
Ссылки
Версии
Ссылочные документы
IEC 62276:2016 ed3.0
Действует
Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods
— 39 стр.
IEC 62281:2016 RLV ed3.0
Заменен
Safety of primary and secondary lithium cells and batteries during transport
— 88 стр.
IEC 62276:2005 ed1.0
Заменен
Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods
— 34 стр.
На этот документ ссылаются
IEC 62276:2016 ed3.0
Действует
Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods
— 39 стр.
18/30362458 DC
Действует
BS IEC 60747-14-11. Semiconductor devices. Part 14-11. Semiconductor sensors. Test method of surface acoustic wave based integrated sensor for measuring ultra violet, illumination and temperature
— 28 стр.
IEC 62276:2005 ed1.0
Заменен
Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods
— 34 стр.