Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыIEC

IEC 62415:2010 ed1.0

Действует
Semiconductor devices - Constant current electromigration test — 22 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии
IEC 62415:2010 describes a method for conventional constant current electromigration testing of metal lines, via string and contacts.
ICS
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом