Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт

IEC PAS 62172:2000 ed1.0

Заменен
Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave — 4 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии

Ссылочные документы

IEC 60749-33:2004 ed1.0
Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave — 17 стр.

На этот документ ссылаются

IEC 60749-33:2004 ed1.0
Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave — 17 стр.