Каталог стандартов
+7 (495) 223-46-76
+7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании
Стандарты
Контакты
Заказать стандарт
IEC PAS 62175:2000 ed1.0
Заменен
Marking permanency test method
— 5 стр.
Описание
Изменения
Ссылки
Версии
Verifies that the markings on solid state semiconductor devices will not become illegible when subjected to solvents or cleaning solutions commonly used during the removal of solder flux residue from the printed circuit board assembly process.
Заменен на
IEC 60749-9:2002 ed1.0
ICS
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом