Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт

IEC PAS 62177:2000 ed1.0

Заменен
Highly-accelerated temperature and humidity stress test (HAST) — 8 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии

Ссылочные документы

IEC 60749-4:2002 ed1.0
Заменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) — 15 стр.

На этот документ ссылаются

IEC 60749-4:2002 ed1.0
Заменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) — 15 стр.