Каталог стандартов
+7 (495) 223-46-76
+7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании
Стандарты
Контакты
Заказать стандарт
IEC PAS 62185:2000 ed1.0
Заменен
Thermal shock test method
— 7 стр.
Описание
Изменения
Ссылки
Версии
This test is conducted to determine the resistance of a part to sudden exposure to extreme changes in temperature and to the effect of alternate exposures to these extremes.
Заменен на
IEC 60749-11:2002 ed1.0
ICS
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом