Стандарты ISO

ISO 22493:2008

Заменен

Microbeam analysis -- Scanning electron microscopy -- Vocabulary — 30 стр.

Описание Изменения Ссылки Версии

Ссылочные документы

ISO 22493:2014

Действует

Microbeam analysis -- Scanning electron microscopy -- Vocabulary — 28 стр.

На этот документ ссылаются

ISO 22493:2014

Действует

Microbeam analysis -- Scanning electron microscopy -- Vocabulary — 28 стр.

DD ISO/TS 10798:2011

Действует

Nanotechnologies. Characterization of single-wall carbon nanotubes using scanning electron microscopy and energy dispersive X-ray spectrometry analysis — 38 стр.

PD ISO/TR 19319:2013

Действует

Surface chemical analysis. Fundamental approaches to determination of lateral resolution and sharpness in beam-based methods — 126 стр.