Каталог стандартов
+7 (495) 223-46-76
+7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании
Стандарты
Контакты
Заказать стандарт
Стандарты
ISO
ISO 24173:2009
Действует
Microbeam analysis -- Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction
— 50 стр.
Описание
Изменения
Ссылки
Версии
На этот документ ссылаются
PD ISO/TS 80004-6:2013
Действует
Nanotechnologies. Vocabulary. Nano-object characterization
— 36 стр.
PD CEN ISO/TS 80004-6:2015
Действует
Nanotechnologies. Vocabulary. Nano-object characterization
— 34 стр.
BS ISO 13067:2011
Действует
Microbeam analysis. Electron backscatter diffraction. Measurement of average grain size
— 30 стр.
