Каталог стандартов
+7 (495) 223-46-76
+7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании
Стандарты
Контакты
Заказать стандарт
Стандарты
ISO
ISO/TR 18392:2005
Действует
Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectroscopy -- Procedures for determining backgrounds
— 18 стр.
Описание
Изменения
Ссылки
Версии
На этот документ ссылаются
PD ISO/TR 18196:2016
Действует
Nanotechnologies. Measurement technique matrix for the characterization of nano-objects
— 66 стр.
BS ISO 10810:2010
Действует
Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Guidelines for analysis
— 38 стр.
18/30364925 DC
Действует
BS ISO 10810. Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Guidelines for analysis
— 36 стр.
BS ISO 13424:2013
Действует
Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Reporting of results of thin-film analysis
— 56 стр.
BS ISO 20903:2011
Действует
Surface chemical analysis. Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy. Methods used to determine peak intensities and information required when reporting results
— 24 стр.
BS ISO 14701:2018
Действует
Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Measurement of silicon oxide thickness
— 24 стр.
BS ISO 14701:2011
Заменен
Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Measurement of silicon oxide thickness
— 22 стр.
