Dieses Dokument legt sechs Verfahren (A bis F) zur optischen Emissionsspektrometrie mit induktiv
gekoppelter Plasmaanregung für die Analyse von Legierungselementen und Verunreinigungen in Kupfer und
Kupferlegierungen fest, die als Gussstücke oder als plastisch oder nicht plastisch geformte Produkte vorliegen.
Ein zusätzliches Verfahren für die Analyse von Kupfer-Zinn-Blei-Legierungen ist in Anhang B (informativ)
beschrieben. Die ermittelten Daten zur Präzision für dieses Verfahren waren nicht für alle Elemente
ausreichend gut (Zink und Phosphor).