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ÖNORM EN ISO 11254-1:2001-02

Заменен
Lasers and laser-related equipment - Determination of laser-induced damage threshold of optical surfaces - Part 1: 1 on 1 test (ISO 11254-1:2000)
This part of ISO 11254 specifies a test method for determining the single-shot laser radiation-induced damage
threshold (LIDT) of optical surfaces.
This test procedure is applicable to all combinations of different laser wavelengths and pulse lengths. However
comparison of laser damage threshold data may be misleading unless the measurements have been carried out at
identical wavelengths, pulse lengths and beam diameters.
Application of this part of ISO 11254 is provisionally restricted to irreversible damage of optical surfaces.
NOTE Examples of units and scaling of laser-induced damage thresholds are given in annex C.
WARNING — The extrapolation of damage data can lead to inaccurate or wrong calculated results and to
an overestimation of the LIDT. In the case of toxic materials (e.g. ZnSe, GaAs, CdTe, ThF4, chalcogenides,
Be, Cr, Ni) this could lead to severe health hazards.
Dieser Teil von ISO 11254 legt ein Prüfverfahren fest zur Bestimmung der laserstrahlungsinduzierten
Einzelschuß-Zerstörschwelle optischer Oberflächen.
Dieses Prüfverfahren ist anwendbar für alle Kombinationen von Laserwellenlängen und Pulsdauern.
Trotzdem kann der Vergleich von Zerstörschwellen-Daten irreführend sein, wenn die Messungen nicht
bei identischen Wellenlängen, Pulsdauern und Strahldurchmessern durchgeführt wurden.
Dieser Teil von ISO 11254 ist vorläufig beschränkt auf die irreversible Beschädigung von optischen
Oberflächen.
ANMERKUNG Beispiele für Maßeinheiten und die Skalierung von laserinduzierten Zerstörschwellen
sind im Anhang C aufgeführt.
SICHERHEITSHINWEIS: Die Extrapolation von Beschädigungsdaten kann zu ungenauen oder falsch
berechneten Ergebnissen und zu einer Überschätzung der laserinduzierten Zerstörschwellen führen.
Im Falle von toxischen Werkstoffen ( z.B. ZnSe, GaAs, CdTe ,ThF4, Chalkogeniden, Be, Cr, Ni) kann
dies schwere gesundheitliche Gefährdungen mit sich bringen.
ICS
31.260 Optoelectronics. Including photoelectric tubes and cells / Оптоэлектроника. Лазерное оборудование