This International Standard specifies a destructive method for determination of the dry film thickness, in which damage to the coat caused in a definite manner is evaluated microscopically. The method is suitable for almost all coat-substrate combinations and also allows determination of the single film thicknesses of coating systems.
The method cannot be applied or can only be applied with restrictions in case of
- too soft and/or elastic coatings (no recognizable scribe or drill hole can be observed),
- hard (cannot be scribed/drilled) or too soft and/or elastic substrates,
- too low visual contrast between the coating and substrate, and
- film thicknesses that are larger than the depth of field of the measuring microscope.
Diese Internationale Norm legt ein zerstörendes Verfahren zum Bestimmen der Trockenschichtdicke fest, bei dem eine definiert erzeugte Schichtverletzung mikroskopisch ausgewertet wird. Das Verfahren ist für nahezu alle Schicht-Substrat-Kombinationen geeignet und lässt auch die Bestimmung der Einzelschichtdicken von Beschichtungssystemen zu.
Das Verfahren kann in folgenden Fällen nicht oder nur bedingt angewendet werden:
- zu weiche und/oder elastische Beschichtungen (es kann kein erkennbarer Ritz oder erkennbares Bohrloch wahrgenommen werden);
- harte (nicht anritzbare/anbohrbare) oder zu weiche und/oder elastische Substrate;
- zu geringer optischer Kontrast zwischen Beschichtung und Substrat;
- Schichtdicken, die größer sind als die Schärfentiefe des Messmikroskops.