This International Standard specifies a method for the
measurement of the thickness of thin, highly reflective
coatings (up to 2 Pm) by the use of Fizeau multiple-beam
interferometry.
The method described cannot be applied to vitreous enamel
coatings.
Diese Internationale Norm legt ein Verfahren zur Messung der Schichtdicke von
dünnen, stark reflektierenden Überzügen (bis 2 p) durch Anwendung des Vielstrahl-
Interferenz-Verfahrens nach Fizeau fest.
Das beschriebene Verfahren kann nicht auf Überzügen aus Glasemai 1 angewendet
werden.