1.1 This part of ISO 8503 specifies the focusing microscope
and describes the procedure for calibrating ISO surface Profile
comparators complying with the requirements of ISO 8503-1.
1.2 This part of ISO 8503 is also applicable to the determination
of the surface Profile, within the range h, = 20 to 200 Pm,
of essentially planar blast-cleaned steel. The determination may
be carried out on a representative section of the blast-cleaned
Substrate or, if direct Observation of the surface is not feasible,
on a replica of the surface (see annex E).
NO TE - Where appropriate, this proce dure may be u sed for assessi
the roughness Profile of other abrasive blast-cleaned Substrates.
An alternative procedure is described in ISO 8503-4.
Diese ÖNORM legt die Anforderungen an das Mikroskop fest und beschreibt ein Verfahren zur Kalibrierung von ISO-Rauheitsvergleichsmustern, die den Anforderungen von ÖNORM EN 28503-1 entsprechen. Diese ÖNORM kann auch zur Bestimmung der Oberflächenrauheit im Bereich 3hy 1= 20 bis 200 /um, von im wesentlichen ebenem gestrahlten Stahl angewendet werden. Die Bestimmung kann an einem repräsentativen Teil der gestrahlten Oberfläche durchgeführt werden oder, wenn eine diekte Begutachtung nicht möglich ist, auf einem Abdruck derselben. Ein alternatives Verfahren wird in ÖNORM EN 28503-4 beschrieben.