OVE EN 60749-4:2017-12

Действует

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) (IEC 60749-4:2017) (english version)

Описание Изменения Ссылки Версии

Ссылочные документы

IEC 60749-5:2017 ed2.0

Заменен

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test — 9 стр.