Каталог стандартов
+7 (495) 223-46-76
+7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании
Стандарты
Контакты
Заказать стандарт
Стандарты
ON
OVE EN 60749-44:2017-05
Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices ( IEC 60749-44:2016) (english version)
Описание
Изменения
Ссылки
Версии
ICS
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом
