Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru

OVE EN 60749-5:2018-02

Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (IEC 60749-5:2017) (english version)
ICS
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом