OVE EN 62276:2017-10

Действует

Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods ( IEC 62276:2016) (english version)

Описание Изменения Ссылки Версии

Ссылочные документы

IEC 60758:2016 ed5.0

Действует

Synthetic quartz crystal - Specifications and guidelines for use — 121 стр.

ISO 2859-1:1999

Действует

Sampling procedures for inspection by attributes. Part 1. Sampling schemes indexed by acceptance quality limit (AQL) for lot-by-lot inspection — 94 стр.

ÖVE/ÖNORM EN 62276:2013-10

Заменен

Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods (IEC 62276:2012) (english version)

На этот документ ссылаются

ÖVE/ÖNORM EN 62276:2013-10

Заменен

Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods (IEC 62276:2012) (english version)