Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыONICS31 Electronics / Электроника31.080 Semiconductor devices / Полупроводниковые приборы31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом

OVE EN IEC 60749-17:2019-12

Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 17: Neutron irradiation (IEC 60749-17:2019) (english version)
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии
ICS
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом