Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru

ÖVE/ÖNORM EN 60191-6-19:2010-11

Действует
Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-19: Measurement methods of the package warpage at elevated temperature and the maximum permissible warpage (IEC 60191-6-19:2010) (english version)
ICS
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом