Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
Корзина
ON
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыON

ÖVE/ÖNORM EN 62047-13:2012-11

Действует
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 13: Bend- and shear- type test methods of measuring adhesive strength for MEMS structures (IEC 62047-13:2012) (english version)
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии

Ссылочные документы

IEC 62047-2:2006 ed1.0
Действует
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 2: Tensile testing method of thin film materials — 25 стр.
BS EN 62047-2:2006
Действует
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Tensile testing method of thin film materials — 16 стр.