Каталог стандартов
+7 (495) 223-46-76
+7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании
Стандарты
Контакты
Заказать стандарт
Стандарты
ON
ÖVE/ÖNORM EN 62047-18:2014-06
Действует
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 18: Bend testing methods of thin film materials (IEC 62047-18:2013) (english version)
Описание
Изменения
Ссылки
Версии
ICS
31.080.99 Other semiconductor devices / Полупроводниковые приборы прочие
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом
31.220.01 Electromechanical components in general / Электромеханические компоненты в целом
