Стандарты ON

ÖVE/ÖNORM EN 62047-5:2012-05

Действует

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 5: RF MEMS switches (IEC 62047-5:2011) (english version)

Описание Изменения Ссылки Версии

Ссылочные документы

IEC 60747-1:2006 ed2.0

Действует

Semiconductor devices - Part 1: General — 89 стр.

IEC 60747-16-4:2004 ed1.0

Действует

Semiconductor devices - Part 16-4: Microwave integrated circuits - Switches — 57 стр.

IEC 60749-5:2017 ed2.0

Заменен

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test — 9 стр.

IEC 60749-10:2002/COR1:2003 ed1.0

Заменен

Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock — 0 стр.

IEC 60749-12:2002 ed1.0

Заменен

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12: Vibration, variable frequency — 7 стр.

IEC 60749-27:2006+AMD1:2012 CSV ed2.1

Действует

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) — 25 стр.

BS EN 60747-16-1:2002+A1:2007

Заменен

Semiconductor devices. Microwave integrated circuits. Amplifiers — 60 стр.

BS EN 60747-16-4:2004

Заменен

Discrete semiconductor devices. Microwave integrated circuits. Switches — 34 стр.

BS EN 60749-5:2017

Действует

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Steady-state temperature humidity bias life test — 16 стр.

BS EN 60749-10:2002

Действует

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Mechanical shock — 8 стр.

BS EN 60749-12:2002

Заменен

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Vibration, variable frequency — 8 стр.

BS EN 60749-27:2006

Действует

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Machine model (MM) — 16 стр.