Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru

ÖVE/ÖNORM EN 62047-6:2010-08

Действует
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 6: Axial fatigue testing methods of thin film materials (IEC 62047-6:2009) (english version)
ICS
31.080.99 Other semiconductor devices / Полупроводниковые приборы прочие