Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
Корзина
ON
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыONICS31 Electronics / Электроника31.080 Semiconductor devices / Полупроводниковые приборы31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом

ÖVE/ÖNORM EN 62374-1:2011-08

Действует
Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers (IEC 62374-1:2010) (english version)
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии
ICS
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом