Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
Корзина
ASTM
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыASTM

ASTM E1636-04

Заменен
Standard Practice for Analytically Describing Sputter-Depth-Profile Interface Data by an Extended Logistic Function — 7 стр.
ОписаниеСсылкиВерсии

Ссылочные документы

ASTM E673-03
Отменен
Standard Terminology Relating to Surface Analysis (Withdrawn 2012) — 10 стр.
ASTM E1127-08
Заменен
Standard Guide for Depth Profiling in Auger Electron Spectroscopy — 5 стр.
ASTM E1162-06
Заменен
Standard Practice for Reporting Sputter Depth Profile Data in Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) — 3 стр.
ASTM E1438-06
Заменен
Standard Guide for Measuring Widths of Interfaces in Sputter Depth Profiling Using SIMS — 2 стр.
ASTM E1636-10
Отменен
Standard Practice for Analytically Describing Depth-Profile and Linescan-Profile Data by an Extended Logistic Function (Withdrawn 2019) — 8 стр.
ASTM E1636-94(1999)
Заменен
Standard Practice for Analytically Describing Sputter-Depth-Profile Interface Data by an Extended Logistic Function — 7 стр.

На этот документ ссылаются

ASTM E1127-91(1997)
Заменен
Standard Guide for Depth Profiling in Auger Electron Spectroscopy — 4 стр.
ASTM E1636-94(1999)
Заменен
Standard Practice for Analytically Describing Sputter-Depth-Profile Interface Data by an Extended Logistic Function — 7 стр.
ASTM E1636-10
Отменен
Standard Practice for Analytically Describing Depth-Profile and Linescan-Profile Data by an Extended Logistic Function (Withdrawn 2019) — 8 стр.
ASTM E1127-03
Заменен
Standard Guide for Depth Profiling in Auger Electron Spectroscopy — 5 стр.