Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыASTM

ASTM E1636-10

Отменен
Standard Practice for Analytically Describing Depth-Profile and Linescan-Profile Data by an Extended Logistic Function (Withdrawn 2019) — 8 стр.
ОписаниеСсылкиВерсии

Ссылочные документы

ASTM E1127-24
Действует
Standard Guide for Depth Profiling in Auger Electron Spectroscopy — 6 стр.
ASTM E673-03
Отменен
Standard Terminology Relating to Surface Analysis (Withdrawn 2012) — 10 стр.
ASTM E1162-11(2019)
Действует
Standard Practice for Reporting Sputter Depth Profile Data in Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) — 3 стр.
ASTM E1438-11(2019)
Действует
Standard Guide for Measuring Widths of Interfaces in Sputter Depth Profiling Using SIMS — 3 стр.
ASTM E1636-10
Отменен
Standard Practice for Analytically Describing Depth-Profile and Linescan-Profile Data by an Extended Logistic Function (Withdrawn 2019) — 8 стр.
ASTM E1636-04
Заменен
Standard Practice for Analytically Describing Sputter-Depth-Profile Interface Data by an Extended Logistic Function — 7 стр.

На этот документ ссылаются

ASTM E1636-04
Заменен
Standard Practice for Analytically Describing Sputter-Depth-Profile Interface Data by an Extended Logistic Function — 7 стр.
ASTM E2735-14
Заменен
Standard Guide for Selection of Calibrations Needed for X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) Experiments — 6 стр.
ASTM E2735-13
Заменен
Standard Guide for Selection of Calibrations Needed for X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) Experiments — 6 стр.
ASTM E2735-14(2020)
Действует
Standard Guide for Selection of Calibrations Needed for X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) Experiments — 6 стр.
ASTM E1636-10
Отменен
Standard Practice for Analytically Describing Depth-Profile and Linescan-Profile Data by an Extended Logistic Function (Withdrawn 2019) — 8 стр.
ASTM E1127-08(2015)
Заменен
Standard Guide for Depth Profiling in Auger Electron Spectroscopy (Withdrawn 2024) — 5 стр.
ASTM E1127-24
Действует
Standard Guide for Depth Profiling in Auger Electron Spectroscopy — 6 стр.
ASTM E1127-08
Заменен
Standard Guide for Depth Profiling in Auger Electron Spectroscopy — 5 стр.