Стандарты ASTM

ASTM E2735-14(2020)

Действует

Standard Guide for Selection of Calibrations Needed for X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) Experiments — 6 стр.

Описание Ссылки Версии

Ссылочные документы

ASTM E1634-11(2019)

Действует

Standard Guide for Performing Sputter Crater Depth Measurements — 3 стр.

ASTM E1577-11

Отменен

Standard Guide for Reporting of Ion Beam Parameters Used in Surface Analysis (Withdrawn 2020) — 3 стр.

ASTM E1636-10

Отменен

Standard Practice for Analytically Describing Depth-Profile and Linescan-Profile Data by an Extended Logistic Function (Withdrawn 2019) — 8 стр.

ASTM E1523-24

Действует

Standard Guide to Charge Control and Charge Referencing Techniques in X-Ray Photoelectron Spectroscopy — 7 стр.

ASTM E1829-14(2020)

Действует

Standard Guide for Handling Specimens Prior to Surface Analysis — 5 стр.

ASTM E2108-16

Действует

Standard Practice for Calibration of the Electron Binding-Energy Scale of an X-Ray Photoelectron Spectrometer — 17 стр.

ASTM E995-16

Действует

Standard Guide for Background Subtraction Techniques in Auger Electron Spectroscopy and X-Ray Photoelectron Spectroscopy — 6 стр.

ASTM E996-19

Действует

Standard Practice for Reporting Data in Auger Electron Spectroscopy and X-ray Photoelectron Spectroscopy — 3 стр.

ASTM E1127-24

Действует

Standard Guide for Depth Profiling in Auger Electron Spectroscopy — 6 стр.

ASTM E1217-11(2019)

Действует

Standard Practice for Determination of the Specimen Area Contributing to the Detected Signal in Auger Electron Spectrometers and Some X-Ray Photoelectron Spectrometers — 9 стр.

ASTM E1078-14(2020)

Действует

Standard Guide for Specimen Preparation and Mounting in Surface Analysis — 10 стр.

ASTM E2735-14

Заменен

Standard Guide for Selection of Calibrations Needed for X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) Experiments — 6 стр.

На этот документ ссылаются

ASTM E2735-14

Заменен

Standard Guide for Selection of Calibrations Needed for X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) Experiments — 6 стр.

ASTM E2735-13

Заменен

Standard Guide for Selection of Calibrations Needed for X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) Experiments — 6 стр.