Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыASTM

ASTM F1188-00

Заменен
Standard Test Method for Interstitial Atomic Oxygen Content of Silicon by Infrared Absorption — 5 стр.
ОписаниеСсылкиВерсии

Ссылочные документы

ASTM F1188-02
Отменен
Standard Test Method for Interstitial Atomic Oxygen Content of Silicon by Infrared Absorption with Short Baseline (Withdrawn 2003) — 9 стр.

На этот документ ссылаются

DIN 50438-1:1995-07
Отменен
Testing of materials for semiconductor technology - Determination of impurity content in silicon by infrared absorption - Part 1: Oxygen — 10 стр.
DIN 50438-1:1994-09
Отменен
Testing of materials for semiconductor technology - Determination of impurity content in silicon by infrared absorption - Part 1: Oxygen — 10 стр.
ASTM F1188-02
Отменен
Standard Test Method for Interstitial Atomic Oxygen Content of Silicon by Infrared Absorption with Short Baseline (Withdrawn 2003) — 9 стр.