Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru

DIN 50438-1:1995-07

Отменен
Testing of materials for semiconductor technology - Determination of impurity content in silicon by infrared absorption - Part 1: Oxygen — 10 стр.
ICS
29.045 Semiconducting materials / Полупроводниковые материалы