Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыASTMICS31 Electronics / Электроника31.080 Semiconductor devices / Полупроводниковые приборы31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом

ASTM F1192-24

Действует
Standard Guide for the Measurement of Single Event Phenomena (SEP) Induced by Heavy Ion Irradiation of Semiconductor Devices — 12 стр.
ОписаниеСсылкиВерсии

Ссылочные документы

ASTM F1192-11(2018)
Заменен
Standard Guide for the Measurement of Single Event Phenomena (SEP) Induced by Heavy Ion Irradiation of Semiconductor Devices — 11 стр.

На этот документ ссылаются

ASTM F1192-00
Заменен
Standard Guide for the Measurement of Single Event Phenomena (SEP) Induced by Heavy Ion Irradiation of Semiconductor Devices — 11 стр.
ASTM F1192-11
Заменен
Standard Guide for the Measurement of Single Event Phenomena (SEP) Induced by Heavy Ion Irradiation of Semiconductor Devices — 11 стр.
ASTM F1192-00(2006)
Заменен
Standard Guide for the Measurement of Single Event Phenomena (SEP) Induced by Heavy Ion Irradiation of Semiconductor Devices — 11 стр.
ASTM F1192-11(2018)
Заменен
Standard Guide for the Measurement of Single Event Phenomena (SEP) Induced by Heavy Ion Irradiation of Semiconductor Devices — 11 стр.