Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыASTM

ASTM F47-94

Заменен
Test Method for Crystalographic Perfection of Silicon by Preferential Etch Techniques (Withdrawn 1998) — 11 стр.
ОписаниеСсылкиВерсии
Заменен на
ASTM F1725-02
ICS
77.040.30 Chemical analysis of metals / Химический анализ металлов