Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыASTM

ASTM F522-94

Заменен
Test Method for Stacking Fault Density of Epitaxial Layers of Silicon by Interference-Contrast Microscopy (Withdrawn 1998) — 4 стр.
ОписаниеСсылкиВерсии
Заменен на
ASTM F1810-97(2002)
ICS
29.045 Semiconducting materials / Полупроводниковые материалы