Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыASTM

ASTM F523-93(1997)

Заменен
Standard Practice for Unaided Visual Inspection of Polished Silicon Wafer Surfaces — 5 стр.
ОписаниеСсылкиВерсии

Ссылочные документы

ASTM F523-02
Отменен
Standard Practice for Unaided Visual Inspection of Polished Silicon Wafer Surfaces (Withdrawn 2003) — 5 стр.

На этот документ ссылаются

DIN 50446:1995-09
Отменен
Testing of materials for semiconductor technology - Determination of defect types and defect densities of silicon epitaxial layers — 10 стр.
ASTM F523-02
Отменен
Standard Practice for Unaided Visual Inspection of Polished Silicon Wafer Surfaces (Withdrawn 2003) — 5 стр.