Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыDIN

DIN 50446:1995-09

Отменен
Testing of materials for semiconductor technology - Determination of defect types and defect densities of silicon epitaxial layers — 10 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии
ICS
29.045 Semiconducting materials / Полупроводниковые материалы