Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыASTM

ASTM F815-88(1993)e1

Отменен
Test Method for Detection of Epitaxial Spikes (Withdrawn 1999) — 2 стр.
ОписаниеСсылкиВерсии

Ссылочные документы

ASTM F815-88(1993)e1
Отменен
Test Method for Detection of Epitaxial Spikes (Withdrawn 1999) — 2 стр.

На этот документ ссылаются

DIN 50446:1995-09
Отменен
Testing of materials for semiconductor technology - Determination of defect types and defect densities of silicon epitaxial layers — 10 стр.
ASTM F815-88(1993)e1
Отменен
Test Method for Detection of Epitaxial Spikes (Withdrawn 1999) — 2 стр.