Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru

ASTM F928-93(1999)

Заменен
Standard Test Methods for Edge Contour of Circular Semiconductor Wafers and Rigid Disk Substrates — 4 стр.
ASTM F928-93(1999)
Заменен
ASTM F928-02
Отменен