Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыASTM

ASTM F928-93(1999)

Заменен
Standard Test Methods for Edge Contour of Circular Semiconductor Wafers and Rigid Disk Substrates — 4 стр.
ОписаниеСсылкиВерсии

Ссылочные документы

ASTM F928-02
Отменен
Standard Test Methods for Edge Contour of Circular Semiconductor Wafers and Rigid Disk Substrates (Withdrawn 2003) — 4 стр.

На этот документ ссылаются

DIN 50446:1995-09
Отменен
Testing of materials for semiconductor technology - Determination of defect types and defect densities of silicon epitaxial layers — 10 стр.
ASTM F928-02
Отменен
Standard Test Methods for Edge Contour of Circular Semiconductor Wafers and Rigid Disk Substrates (Withdrawn 2003) — 4 стр.