Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыBSI

BS EN 60749-23:2004+A1:2011

Действует
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. High temperature operating life — 12 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии

Ссылочные документы

BS EN 60749-34:2004
Заменен
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Power cycling — 12 стр.
BS EN 60747-15:2012
Действует
Semiconductor devices. Discrete devices. Isolated power semiconductor devices — 28 стр.
IEC 60749-34:2004 ed1.0
Заменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling — 21 стр.
IEC 60747-14-2:2000 ed1.0
Действует
Semiconductor devices - Part 14-2: Semiconductor sensors - Hall elements — 14 стр.
BS EN 60749-23:2004
Действует
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. High temperature operating life — 12 стр.