Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыBSI

BS EN 60749-34:2004

Заменен
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Power cycling — 12 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии

Ссылочные документы

BS IEC 60747-1:2006+A1:2010
Действует
Semiconductor devices. General — 46 стр.
BS EN 60749-23:2004
Действует
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. High temperature operating life — 12 стр.
BS EN 60747-16-3:2002+A1:2009
Заменен
Semiconductor devices. Microwave integrated circuits. Frequency converters — 44 стр.
BS IEC 60747-2:2000
Заменен
Discrete semiconductor devices and integrated circuits, Rectifier diodes — 68 стр.
BS IEC 60747-6:2000
Заменен
Discrete semiconductor devices and integrated circuits, Thyristors — 176 стр.
BS IEC 60748-1:2002
Действует
Semiconductor devices. Integrated circuits. General — 32 стр.
BS EN 60749-3:2002
Заменен
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. External visual examination — 8 стр.
BS EN 60749-34:2010
Действует
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Power cycling — 12 стр.

На этот документ ссылаются

BS EN 60749-23:2004
Действует
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. High temperature operating life — 12 стр.
BS EN 60749-23:2004+A1:2011
Действует
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. High temperature operating life — 12 стр.
BS EN 60749-34:2010
Действует
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Power cycling — 12 стр.
ÖVE/ÖNORM EN 60749-23:2011-09
Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life (IEC 60749-23:2004 + A1:2011) (english version)