Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru

ÖVE/ÖNORM EN 60749-23:2011-09

Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life (IEC 60749-23:2004 + A1:2011) (english version)
ICS
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом