ÖVE/ÖNORM EN 60749-23:2011-09

Действует

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life (IEC 60749-23:2004 + A1:2011) (english version)

Описание Изменения Ссылки Версии

Ссылочные документы

IEC 60747-7:2010+AMD1:2019 CSV ed3.1

Действует

Semiconductor devices - Discrete devices - Part 7: Bipolar transistors — 418 стр.

IEC 60749-34:2004 ed1.0

Заменен

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling — 21 стр.

BS EN 60747-2:2016

Действует

Semiconductor devices, Discrete devices. Rectifier diodes — 48 стр.

BS EN 60749-34:2004

Заменен

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Power cycling — 12 стр.