Каталог стандартов
+7 (495) 223-46-76
+7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании
Стандарты
Контакты
Заказать стандарт
Стандарты
BSI
BS EN 60749-34:2010
Действует
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Power cycling
— 12 стр.
Описание
Изменения
Ссылки
Версии
Ссылочные документы
IEC 60748-3:1986/AMD2:1994 ed1.0
Действует
Amendment 2 - Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 3: Analogue integrated circuits
— 25 стр.
IEC 60747-14-2:2000 ed1.0
Действует
Semiconductor devices - Part 14-2: Semiconductor sensors - Hall elements
— 14 стр.
BS EN 60749-23:2004
Действует
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. High temperature operating life
— 12 стр.
BS EN 60749-3:2017
Действует
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. External visual examination
— 16 стр.
IEC 60749-23:2004 ed1.0
Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
— 17 стр.
IEC 60749-30:2005+AMD1:2011 CSV ed1.1
Заменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing
— 28 стр.
IEC 60747-6:2000 ed2.0
Заменен
Semiconductor devices - Part 6: Thyristors
— 335 стр.
BS IEC 60747-2:2000
Заменен
Discrete semiconductor devices and integrated circuits, Rectifier diodes
— 68 стр.
BS IEC 60747-1:2006
Действует
Semiconductor devices. General
— 46 стр.
BS EN 60749-34:2004
Заменен
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Power cycling
— 12 стр.
На этот документ ссылаются
BS EN 60749-34:2004
Заменен
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Power cycling
— 12 стр.
BS EN 60747-15:2012
Действует
Semiconductor devices. Discrete devices. Isolated power semiconductor devices
— 28 стр.
ÖVE/ÖNORM EN 60747-15:2012-10
Действует
Semiconductor devices - Discrete devices - Part 15: Isolated power semiconductor devices (IEC 60747-15:2010) (english version)