Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru

BS EN 60749-38:2008

Действует
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Soft error test method for semiconductor devices with memory — 16 стр.
ICS
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом