BS EN 60749-38:2008

Действует

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Soft error test method for semiconductor devices with memory — 16 стр.

Описание Изменения Ссылки Версии

На этот документ ссылаются

BS EN 60749-44:2016

Действует

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices — 24 стр.