Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыBSI

BS EN 60749-4:2002

Заменен
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) — 12 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии

Ссылочные документы

IEC 60749-5:2003 ed1.0
Заменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test — 13 стр.
BS EN 60749-4:2017
Действует
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) — 14 стр.

На этот документ ссылаются

BS EN 60749-30:2005
Действует
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing — 16 стр.
BS EN 60749-4:2017
Действует
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) — 14 стр.
BS EN 60749-30:2005+A1:2011
Действует
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing — 16 стр.
BS EN 60749:1999
Заменен
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods — 80 стр.
ÖVE/ÖNORM EN 60749-30:2012-02
Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing (IEC 60749-30:2005 + A1:2011) (english version)