Каталог стандартов
+7 (495) 223-46-76
+7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании
Стандарты
Контакты
Заказать стандарт
Стандарты
IEC
IEC 60749-5:2003 ed1.0
Заменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
— 13 стр.
Описание
Изменения
Ссылки
Версии
Provides a steady-state temperature and humidity bias life test for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged solid-state devices in humid environments.
Заменен на
IEC 60749-5:2017 ed2.0
ICS
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом