Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыBSI

BS EN 60749-43:2017

Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods. Guidelines for IC reliability qualification plans — 42 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии

Ссылочные документы

IEC 60068-2-30:2005 ed3.0
Действует
Environmental testing - Part 2-30: Tests - Test Db: Damp heat, cyclic (12 h + 12 h cycle) — 14 стр.
IEC 60068-2-1:2007 ed6.0
Действует
Environmental testing - Part 2-1: Tests - Test A: Cold — 15 стр.
IEC 60749-25:2003 ed1.0
Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Temperature cycling — 25 стр.
IEC 60749-5:2017 ed2.0
Заменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test — 9 стр.
BS EN 60749-28:2017
Действует
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Charged device model (CDM). Device level — 48 стр.
BS EN 60749-5:2017
Действует
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Steady-state temperature humidity bias life test — 16 стр.
IEC 60749-20:2008 ed2.0
Заменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20: Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat — 53 стр.
IEC 60749-6:2017 ed2.0
Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature — 8 стр.
IEC 60749-42:2014 ed1.0
Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 42: Temperature and humidity storage — 16 стр.
BS EN 60749-6:2017
Действует
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Storage at high temperature — 12 стр.
IEC 60749-26:2006 ed2.0
Заменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM) — 27 стр.
IEC 60749-23:2004 ed1.0
Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life — 17 стр.

На этот документ ссылаются

BS EN 60749-6:2017
Действует
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Storage at high temperature — 12 стр.