Каталог стандартов
+7 (495) 223-46-76
+7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании
Стандарты
Контакты
Заказать стандарт
Стандарты
BSI
BS EN 62047-14:2012
Действует
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Forming limit measuring method of metallic film materials
— 20 стр.
Описание
Изменения
Ссылки
Версии
Ссылочные документы
IEC 62047-1:2005 ed1.0
Заменен
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 1: Terms and definitions
— 25 стр.
BS EN 62047-1:2006
Заменен
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Terms and definitions
— 28 стр.